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    CIT数字化射线检测系统

    产品寿命周期依赖于产品质量。而产品质量需通过理化检测或无损检测来验证。相对于高成本的理化检测,无损检测就显得经济。传统的无损检测方法包括射线检测胶片法、超声检测、涡流检测、磁粉检测和渗透检测,这些方法已经在工业领域应用了四十多年。

    更新时间:2025-11-11型号:CIT
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